在半導體封裝制造過程中，金線鍵合（Wire Bond）是實現芯片與外部電路連接的重要工藝。隨著封裝結構不斷微型化，鍵合點的機械可靠性成為影響器件長期穩定運行的重要因素。
為了評價金線鍵合質量，工程中通常采用推拉力測試機進行金球推力測試（Ball Shear Test），通過對鍵合球施加剪切載荷，獲取剪切力數據并分析失效狀態。
在實際測試過程中，Ball Shear測試后的焊盤殘留狀態經常成為工程人員關注的問題，尤其是在金/鋁（Au/Al）鍵合結構中，鋁Pad表面的殘金現象容易引發不同判斷。
那么，金球推力測試后鋁Pad沒有殘金，是否代表鍵合失效？殘金是否是評價Wire Bond可靠性的必要條件？
本文科準測控小編將圍繞推拉力測試機金球推力測試中的殘金判定問題，結合JESD22-B116B《Wire Bond Shear Test Method》標準，分析Ball Shear失效模式、IMC界面特征以及測試結果評價方法。
一、推拉力測試機如何進行金球推力測試？
金線鍵合過程中，金絲通過熱超聲鍵合方式與芯片鋁焊盤形成連接。
以常見Au/Al鍵合結構為例，鍵合區域主要包括：
· 金球（Au Ball）；
· 金鋁金屬間化合物層（Au-Al IMC）；
· 鋁焊盤（Al Pad）。
在鍵合過程中，金球受到壓力、溫度以及超聲能量作用，與鋁Pad發生塑性變形，并通過原子擴散形成Au-Al金屬間化合物。該界面結合狀態會影響鍵合點的機械連接性能。
由于金球尺寸通常只有幾十微米，傳統拉力試驗機難以滿足微小結構定位和低力值測試需求，因此半導體封裝領域通常采用推拉力測試機進行Ball Shear測試。
測試過程中，推拉力測試機通過微型剪切刀具作用于金球側面，使鍵合點承受水平剪切載荷，并采集：
· 最大剪切力；
· 力-位移曲線；
· 斷裂位置；
· 失效模式。
通過測試數據與失效形貌結合，可以評價Wire Bond工藝穩定性。
其中，JESD22-B116B《Wire Bond Shear Test Method》對Wire Bond剪切測試方法以及失效模式判定進行了規范，是金球推力測試結果分析的重要參考依據。
二、金球推力測試后為什么會出現不同殘金狀態？
在實際生產過程中，部分工程人員認為：“Ball Shear測試后鋁Pad必須保留殘金，否則說明金球沒有焊牢。"這種判斷并不準確。
金球鍵合結構由多個區域組成，包括金球層、IMC界面層以及鋁Pad層。當推拉力測試機施加載荷時，破壞會發生在整個鍵合結構中結合強度較低的位置。
根據不同斷裂位置，Ball Shear測試后可能出現不同結果：如果斷裂發生在金球內部區域，鋁Pad表面通常會保留一定金屬殘留。如果斷裂發生在IMC相關區域，則可能出現鋁Pad表面沒有明顯殘金，但存在剪切區域和界面破壞痕跡。如果破壞發生在鋁Pad附近，則可能出現焊盤損傷或其他異常失效。
因此，Ball Shear后的殘金狀態與斷裂位置有關，不能單獨作為判斷鍵合質量的依據。
三、Ball Shear測試后鋁Pad沒有殘金，是不是鍵合失效？
對于金/鋁鍵合結構而言，鋁Pad沒有殘金并不能直接判定鍵合失效。
判斷重點應放在：金球與鋁Pad之間是否形成有效結合；測試破壞是否發生在合理位置；失效模式是否符合標準要求。
根據JESD22-B116B標準，Bond Shear屬于常見剪切失效模式。
其中部分Bond Shear失效表現為：
· 焊球從焊盤區域脫離；
· 鋁Pad表面沒有明顯金殘留；
· 但存在明顯剪切痕跡。
這種情況下，說明破壞發生于有效鍵合區域。因此：沒有殘金，并不等于沒有形成有效鍵合。
四、如何判斷Ball Shear是否發生IMC相關剪切？
對于Au/Al鍵合產品，IMC（金屬間化合物）是分析界面結合狀態的重要參考。
推拉力測試機完成金球推力測試后，需要結合顯微觀察分析鋁Pad表面形貌。
如果觀察到：
· 鋁Pad存在明顯剪切坑；
· 剪切區域顏色區別于正常鋁表面；
· 存在灰色界面區域；
· 有斷續金屬殘留；
通?？梢宰鳛镮MC相關剪切的判斷依據。
這種情況下，即使鋁Pad上沒有明顯殘金，也說明金球與鋁Pad之間形成了有效界面結合。
因此，工程分析時應從“殘金觀察"轉向“失效模式分析"。
五、推拉力測試機測試后無殘金，需要如何進一步分析？
如果Ball Shear測試后出現：
· 鋁Pad沒有殘金；
· 沒有明顯界面剪切痕跡；
· 剪切力低于產品要求；
則需要進一步檢查鍵合工藝。
首先需要確認Bond Force參數。Bond Force不足可能導致：金球與鋁Pad接觸面積不足；界面塑性變形不足；Au-Al原子擴散不充分；IMC形成狀態異常。
除此之外，還需要分析：
· 超聲功率；
· 超聲時間；
· 鍵合溫度；
· 鋁Pad表面污染情況；
· 鍵合工具狀態。
對于難以確認的失效樣品，可以進一步采用：
· 彈坑實驗（Crater Test）；
· 截面切片分析；
· SEM觀察。
通過截面分析，可以進一步確認：
· IMC形貌；
· 金鋁界面連續性；
· 鋁Pad是否發生損傷。
六、推拉力測試機如何用于Wire Bond可靠性分析？
在半導體封裝可靠性檢測中，推拉力測試機不僅用于獲取單一推力數值，更重要的是通過標準化加載方式分析鍵合失效原因。
科準測控Alpha-W260自動推拉力測試機針對微電子封裝測試需求設計，可配置不同測試工裝，實現：
· 金球推力測試；
· Ball Shear測試；
· 金線拉力測試；
· 芯片剪切測試；
· 焊點推力測試。
測試過程中，設備能夠采集：
· 剪切力；
· 力-位移曲線；
· 失效過程數據。
結合顯微觀察，可以進一步分析：
· 鋁Pad殘金狀態；
· IMC剪切區域；
· 鍵合失效位置；
· Wire Bond可靠性。
通過測試數據與失效形貌結合，可以幫助工程人員優化：
· Bond Force；
· 超聲參數；
· 鍵合工藝窗口。
以上就是科準測控小編為您介紹的金球推力測試后鋁Pad殘金判定方法，以及推拉力測試機在Ball Shear測試中的應用分析。如果您有關于推拉力測試機、金球推力測試、Ball Shear測試、Wire Bond可靠性測試、JESD22-B116B標準應用以及半導體封裝檢測方案的疑問或需求，歡迎聯系我們獲取專業技術支持。
